unitest
Измерительное оборудование Юнитест
buttons contacts theory about us home

Группа электронных измерений Agilent становится независимой компанией | Keysight Technologies.

Главная > Keysight Technologies > Наноинденторы

U9820A Agilent Nano Indenter G200
(снят с производства)

Nano Indenter G200

Наноиндентор предназначен для проведения инструментальных испытаний вдавливанием и проведения скретч теста (испытаний царапанием). Система Nano Indenter G200 полностью соответствует стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3.

Полностью автоматизированная система Agilent Nano Indenter G200 предназначена для проведения наноиндетирования и скретч теста в микро-, субнанодиапазоне в полном соответствии стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3. Наноиндентированием можно количественно определить основные механические характеристики — твердость и модуль упругости. При скретч тесте определяют профиль поверхности и царапины, а также нагрузку разрушения.

Области применения

  • физика полупроводников и тонкопленочных структур
  • испытания микроэлектромеханических устройств (MEMs)
  • твердые покрытия и алмазоподобные (DLS) пленки
  • композиционные материалы, волокна, полимеры
  • металлы и керамики

Особенности и преимущества

  • Точность и воспроизводимость результатов в соответствии со стандартом ISO 14577.
  • Электромагнитный привод обеспечивает широчайший динамический диапазон силы и смещения.
  • Гибкая конфигурация модульной конструкции системы и возможности модернизации позволяют воспроизводить специфические научные исследования, а также обеспечивают разработку множества новых методик выполнения измерений.
  • Динамические измерения посредством методики непрерывного измерения жесткости при наноиндентировании.
  • Лучшее программное обеспечение управления системой, сбора данных и анализа предоставляет управление в реальном времени в процессе эксперимента, генерацию отчета о выполнении измерений, а также прецизионную программную компенсацию температурного дрейфа.

Опциональные возможности системы Agilent Nano
Indenter G200

  • непрерывное измерение жесткости;
  • нанопозиционирование и получение топографии поверхности;
  • измерение силы трения при скретч тесте;
  • высокое разрешение при наноиндентировании;
  • увеличение максимальной нагрузки индентирования до 10 Н;
  • высокотемпературное наноиндентирование;
  • ПО для создания пользовательских методик теста и моделей.

Подробнее (англ.) pdf