Наноиндентор предназначен для проведения инструментальных испытаний вдавливанием и проведения скретч теста (испытаний царапанием). Система Nano Indenter G200 полностью соответствует стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3.
Полностью автоматизированная система Agilent Nano Indenter G200 предназначена для проведения наноиндетирования и скретч теста в микро-, субнанодиапазоне в полном соответствии стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3. Наноиндентированием можно количественно определить основные механические характеристики — твердость и модуль упругости. При скретч тесте определяют профиль поверхности и царапины, а также нагрузку разрушения.
Области применения
- физика полупроводников и тонкопленочных структур
- испытания микроэлектромеханических устройств (MEMs)
- твердые покрытия и алмазоподобные (DLS) пленки
- композиционные материалы, волокна, полимеры
- металлы и керамики
Особенности и преимущества
- Точность и воспроизводимость результатов в соответствии со стандартом ISO 14577.
- Электромагнитный привод обеспечивает широчайший динамический диапазон силы и смещения.
- Гибкая конфигурация модульной конструкции системы и возможности модернизации позволяют воспроизводить специфические научные исследования, а также обеспечивают разработку множества новых методик выполнения измерений.
- Динамические измерения посредством методики непрерывного измерения жесткости при наноиндентировании.
- Лучшее программное обеспечение управления системой, сбора данных и анализа предоставляет управление в реальном времени в процессе эксперимента, генерацию отчета о выполнении измерений, а также прецизионную программную компенсацию температурного дрейфа.
Опциональные возможности системы Agilent Nano Indenter G200
- непрерывное измерение жесткости;
- нанопозиционирование и получение топографии поверхности;
- измерение силы трения при скретч тесте;
- высокое разрешение при наноиндентировании;
- увеличение максимальной нагрузки индентирования до 10 Н;
- высокотемпературное наноиндентирование;
- ПО для создания пользовательских методик теста и моделей.
Подробнее (англ.)
|