U9820A Keysight Nano Indenter G200
(знято з виробництва)

Наноіндентор призначений для проведення інструментальних випробувань вдавленням і проведення скретч тесту (випробувань дряпанням). Система Nano Indenter G200 повністю відповідає стандарту ІСО 14577 частинам 1, 2 і 3.

Повністю автоматизована система Keysight Nano Indenter G200 призначена для проведення наноіндентування та скретч-тесту в мікро-, субнанодіапазоні в повній відповідності до стандарту ISO 14577, частин 1, 2 і 3. Наноіндентуванням можна кількісно визначити основні механічні характеристики - твердість і модуль пружності. Під час скретч-тесту визначають профіль поверхні та подряпини, а також навантаження руйнування.

Області застосування

• фізика напівпровідників і тонкоплівкових структур
• випробування мікроелектромеханічних пристроїв (MEMs)
• тверді покриття та алмазоподібні (DLS) плівки
• композиційні матеріали, волокна, полімери
• метали та кераміки

Особливості та переваги

• Точність і відтворюваність результатів відповідно до стандарту ISO 14577.
• Електромагнітний привід забезпечує найширший динамічний діапазон сили і зміщення.
• Гнучка конфігурація модульної конструкції системи і можливості модернізації дають змогу відтворювати специфічні наукові дослідження, а також забезпечують розробку великої кількості нових методик виконання вимірювань.
• Динамічні вимірювання за допомогою методики безперервного вимірювання жорсткості при наноіндентуванні.
• Найкраще програмне забезпечення управління системою, збору даних та аналізу надає управління в реальному часі в процесі експерименту, генерацію звіту про виконання вимірювань, а також прецизійну програмну компенсацію температурного дрейфу.

Опціональні можливості системи Keysight Nano
Indenter G200

• безперервне вимірювання жорсткості;
• нанопозиціонування та отримання топографії поверхні;
• вимірювання сили тертя при скретч тесті;
• висока роздільна здатність при наноіндентуванні;
• збільшення максимального навантаження індентування до 10 Н;
• високотемпературне наноіндентування;
• ПЗ для створення користувацьких методик тесту і моделей.

Докладніше (англ.)